Измерительное и испытательное оборудование для лабораторий, производства, телекоммуникаций

ТЕМ-камера

tem.jpgКамера поперечной электромагнитной волны (ТЕМ-камера) представляет собой лабораторную измерительную систему, с помощью которой возможно создание испытательных полей с точностью до 2 дБ в сравнении с относительным теоретическим значением. Такое значение точности возможно, если подвергающееся испытанию устройство не занимает основную часть объема камеры.

С помощью TEM-камер проводят испытания на электромагнитную совместимость (ЭМС) электронных компонентов и систем.

Преимущества

Основным преимуществом такой камеры является отсутствие излучения в окружающую среду. В ней возможно испытывать устойчивость:

  • компонента, который полем связан со жгутом проводов;

  • одиночного компонента с минимальным воздействием на жгут проводов.

Конструкция, испытания

В состав TEM-камеры входит регулярный отрезок полосковой линии (на рисунке обозначен цифрой 1), у которой на входе и выходе включены пирамидальные переходы (обозначены 2 и 3 на рисунке).

TEM-камера.jpg

С помощью пирамидальных переходов происходит согласование геометрических размеров регулярной части камеры с коаксиальными разъемами (на рисунке обозначены цифрой 4). Коаксиальные разъемы – это линии передачи с изменяющимися непрерывно геометрическими размерами, они подключены к генератору и нагрузке.

В середине регулярной части камеры размещается испытуемый объект (на рисунке обозначен цифрой 5). Именно в этой части отмечаются минимальная неравномерность и отсутствие продольных составляющих электромагнитного поля.

В регулярной части камеры генератором, пирамидальными переходами и согласованной нагрузкой обеспечивается режим бегущей волны, имитирующей волну в открытом пространстве.

Габариты

На выбор размера камеры для испытаний влияют габариты испытуемого объекта, что обусловлено вышеназванными требованиями к неравномерности поля в месте, где расположен объект.

Если регулярная часть камеры имеет большой размер поперечного сечения, при высоких частотах в ней помимо основной волны могут распространяться и другие, высшие типы волн. Такие волны на ее вход и выход не проходят, так как на пирамидальных переходах условия для их распространения не выполняются. Эти волны отражаются от критических сечений.

При определенных условиях данные волны могут вызывать резонансы на частотной характеристике камеры. При этом в регулярной части камеры там, где расположен испытуемый объект, электромагнитное поле становится неравномерным. Как следствие, становится невозможным провести достоверные испытания на ЭМС.

Для частот, превышающих предельную частоту камеры, необходима установка фильтра низких частот (НЧ) с требуемым коэффициентом затухания.
Автор: , «ПРОФКОН»